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ブログ: #FAILURE ANALYSIS

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Keithley source measure unit with I-V curve tracer functionality alongside the original I-V curve tracer system from 1955.
カーブ・トレーサとI-Vカーブ・トレーサ・ソフトウェアとの比較 Tuesday, April 27, 2021

テクトロニクスは、1955年に真空管の特性曲線を表示する業界初のカーブ・トレーサを発表し、その後もトランジスタ、ダイオード、その他ソリッド・ステート・デバイスをテストするモデルが続々と登場しました。576型(下図)、370A型/370B型などのテクトロニクス・カーブ・トレーサは、80年代半ばに生産が終了するまで、業界で広く受け入れられました。電源とオシロスコープを一緒にしたものに近いカーブ・トレーサは、電圧を印加しながら電圧対電流を表示します。

Speeding up Failure Analysis using Lock-in Thermography Thursday, February 4, 2021
Semiconductor companies and semiconductor researchers are constantly looking for ways to make devices fail in the lab in order to prevent failures in the field. Countless hours are spent by failure analysis (FA) engineers trying to understand why a device failed and how it can be prevented in the future. This is vital as many devices are used in mission critical applications where “failure is not …